陶瓷基片厚度检测装置
基本信息
申请号 | CN201810335850.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN108426532A | 公开(公告)日 | 2018-08-21 |
申请公布号 | CN108426532A | 申请公布日 | 2018-08-21 |
分类号 | G01B11/06 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 吴瑞忠 | 申请(专利权)人 | 九豪精密陶瓷(昆山)有限公司 |
代理机构 | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人 | 姚姣阳 |
地址 | 215347 江苏省苏州市正仪镇 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明揭示了一种陶瓷基片厚度检测装置,包括设备平台,还包括用于承载待检测陶瓷基片的承载机构、用于执行待检测陶瓷基片厚度检测的检测机构、以及用于实现待检测陶瓷基片抓取搬运的搬运机构,所述承载机构、检测机构以及搬运机构均固定设置于所述设备平台上,所述承载机构包括上料工位台、检测工位台以及下料工位台,所述检测工位台可活动地设置于所述设备平台上,所述搬运机构与所述检测工位台相配合、共同完成待检测陶瓷基片在所述上料工位台与所述下料工位台之间的搬运。本发明自动化程度高、检测效果好而且有利于提升陶瓷基片的整体质量,具体很高的使用及推广价值。 |
