一种新型的高压槽栅MOS器件

基本信息

申请号 CN202121123899.8 申请日 -
公开(公告)号 CN214672630U 公开(公告)日 2021-11-09
申请公布号 CN214672630U 申请公布日 2021-11-09
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 陈利;陈彬;陈译 申请(专利权)人 厦门芯一代集成电路有限公司
代理机构 厦门荔信航知专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 马小玲
地址 361000福建省厦门市中国(福建)自由贸易试验区厦门片区港中路1736号205-1单元
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种新型的高压槽栅MOS器件,其包括:N型重掺杂衬底,N型轻掺杂缓冲区,P型阱区,P型多晶硅源极区,N型轻掺杂区,P型掺杂区,N型重掺杂源极区,氧化层,栅极多晶硅区;漏极电极设在N型重掺杂衬底下表面,N型重掺杂衬底上有N型轻掺杂缓冲区,N型轻掺杂缓冲区上有P型阱区、N型轻掺杂区和槽栅结构区,N型轻掺杂区和槽栅结构区设在P型阱区之间,N型轻掺杂区上设P型掺杂区,P型掺杂区上设N型重掺杂源极区;另一个P型阱区上设N型重掺杂源极区,在P型阱区上设P型多晶硅源极区;槽栅结构区包括氧化层和栅极多晶硅区,栅极多晶硅区上设栅极电极,P型多晶硅源极区和N型重掺杂源极区上设源极电极。