多点表面位移测量方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN202110245684.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112880572A | 公开（公告）日 | 2021-06-01 |
| 申请公布号 | CN112880572A | 申请公布日 | 2021-06-01 |
| 分类号 | G01B11/03 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王云泽;吴旭;武同;刘玉杰 | 申请（专利权）人 | 杭州国翌科技有限公司 |
| 代理机构 | 重庆双马智翔专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 顾晓玲 |
| 地址 | 311200 浙江省杭州市萧山区杭州萧山空港经济区保税路西侧保税大厦856室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提出了一种多点表面位移测量方法及装置。该方法为：在待测物表面确定多个待测点位，并额外确定至少一个位置固定的参考点位；根据所有点位的位置确定摄像单元的固定位置，并为每个点位设置摄像单元拍摄预置点，采集每个点位的基准图；控制摄像单元在每个点位对应的预置点逐点位巡航拍摄，采集每个点位的测量图；将每个点位的基准图和测量图进行比较，计算得到各点位的测量位移量；根据参考点位的位移量对待测点位的位移量进行位移补偿，得到各待测点位的实际位移量。该方法通过一个摄像单元完成待测物表面的多点位位移测量，效率高，成本低，引入参考点位对待测点位的位移量进行位移补偿，提高了位移测量的精度和稳定性。 |
