一种待测MCU中DAC的精度验证电路
基本信息
| 申请号 | CN201922464577.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN210807229U | 公开（公告）日 | 2020-06-19 |
| 申请公布号 | CN210807229U | 申请公布日 | 2020-06-19 |
| 分类号 | H03M1/10(2006.01)I;H03M1/66(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 李津;朱建兴 | 申请（专利权）人 | 苏州洪芯集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人 | 苏州洪芯集成电路有限公司 |
| 地址 | 215123江苏省苏州市工业园区新平街388号21幢13层15单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型揭示了一种待测MCU中DAC的精度验证电路，与待测对象MCU的DAC输出相对接，其特征在于该精度验证电路为自身功能完善的成品芯片，且成品芯片内置集成有模数转换器，DAC输出信号经模数转换器处理传入成品芯片，且成品芯片中预载入设有用于DAC精度验证的数字输入信号。应用本实用新型该精度验证电路，通过直接使用功能正确的芯片与待测芯片互联，参与对DAC精度的芯片间验证，在保障精度验证结果的前提下大幅降低了操作成本，便于推广应用。 |
