一种用于薄膜基材的双偏光检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202122228279.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215449032U | 公开（公告）日 | 2022-01-07 |
| 申请公布号 | CN215449032U | 申请公布日 | 2022-01-07 |
| 分类号 | G01N21/88（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刁锐敏;廖靖;叶卫鼎;贲可华 | 申请（专利权）人 | 微觉视检测技术（苏州）有限公司 |
| 代理机构 | 成都天嘉专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 赵丽 |
| 地址 | 621000四川省绵阳市涪城区高端装备制造产业园凤凰中路29号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于薄膜基材的双偏光检测装置，涉及材料光学检测设备技术领域，包括机架，所述机架下方固定设置有光源组件，所述光源组件上方的机架上安装有相机组件，所述相机组件用于观察光源组件与相机组件之间的材料形态，所述相机组件从上至下依次包括相机、镜头和圆形偏光镜头，所述光源组件从下至上包括LED灯珠、聚光结构、扩散膜、隔离层、线偏光片和超白玻璃I，所述LED灯珠、聚光结构、扩散膜、隔离层、线偏光片和超白玻璃I依次紧密贴合在一起，可解决现有技术中不能有效检测PC、PMMA以及PC和PMMA复合板上表面疵点的问题。 |
