缺陷检测分类方法、装置、电子设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011633792.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114764768A | 公开（公告）日 | 2022-07-19 |
| 申请公布号 | CN114764768A | 申请公布日 | 2022-07-19 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06V10/74（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 蔡东佐;林子甄;郭锦斌;简士超 | 申请（专利权）人 | 富泰华工业（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518109广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋（Ⅰ段） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及图像检测领域，提供一种缺陷检测分类方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：将待检测图像输入至训练好的自编码器，获得与所述待检测图像对应的重构图像；基于过滤小噪声重构误差的缺陷判断准则，判断所述待检测图像是否存在缺陷；当判定所述待检测图像存在缺陷时，分别计算所述待检测图像与多个标记缺陷类别的范本图像的结构相似性数值，确定最高的结构相似性数值对应的范本图像所标记的缺陷类别，将所述待检测图像分类至所确定的缺陷类别。本发明可提高对图像进行缺陷检测和分类的效率。 |
