缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011615846.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114764764A | 公开（公告）日 | 2022-07-19 |
| 申请公布号 | CN114764764A | 申请公布日 | 2022-07-19 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06V10/774（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 蔡东佐;郭锦斌;林子甄;简士超 | 申请（专利权）人 | 富泰华工业（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518109广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋（Ⅰ段） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括：获取利用正常训练样本训练自编码器及自回归网络时得到的训练权重；载入所述训练权重至所述自编码器及所述自回归网络中以通过载入所述训练权重的所述自编码器对测试样本进行编码得到测试编码特征；将所述测试编码特征输入至载入所述训练权重的所述自回归网络来输出测试结果，所述测试结果包括所述测试样本存在缺陷及所述测试样本不存在缺陷中的一种。本案还提供一种缺陷检测装置、一种电子装置及一种计算机可读存储介质，可避免缺陷的确定的误差。 |
