瑕疵检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110037669.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114764774A | 公开（公告）日 | 2022-07-19 |
| 申请公布号 | CN114764774A | 申请公布日 | 2022-07-19 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06V10/44（2022.01）I;G06V10/74（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06T9/00（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 陈怡桦;蔡东佐;郭锦斌;林子甄 | 申请（专利权）人 | 富泰华工业（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518109广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋（Ⅰ段） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及图像检测技术，提供一种瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：（a）将多张无瑕疵图像导入至一自编码器进行模型训练，以获得多张重构图像；（b）将所述重构图像与对应的无瑕疵图像进行对比，以得到多组测试误差；（c）按照预设规则从多组测试误差中选取一误差阈值；（d）获得一待测图像，并重复步骤（a）至步骤（b），得到一待测重构图像及一待测误差；（e）根据所述待测误差与所述误差阈值，确定所述待测图像的检测结果；（f）当所述检测结果为所述待测图像有瑕疵时，将所述待测图像导入至一分类器进行瑕疵分类，以输出分类结果。本发明提供的瑕疵检测方法不需要收集、标记负样本，有效降低人力成本。 |
