一种半导体手动测试验证装置
基本信息
申请号 | CN202121006717.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN215263834U | 公开(公告)日 | 2021-12-21 |
申请公布号 | CN215263834U | 申请公布日 | 2021-12-21 |
分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 刘春青;李立;张伟聪;陈彪;孙林;宋晓莉;蔡亚桥;饶锡林 | 申请(专利权)人 | 广东气派科技有限公司 |
代理机构 | 深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周玉红 |
地址 | 523330广东省东莞市石排镇气派科技路气派大厦 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及一种半导体手动测试验证装置,包括测试PCB板、半导体固定治具、测试针脚、拨码开关、第一测试公共端和第二测试公共端。测试的原理是把半导体的引脚通过测试针脚、测试PCB板上的电路、拨码开关连接到第一测试公共端和第二测试公共端,由于每个测试针脚一边与半导体引脚一一连接,另一边又与两个拨码电路连接,通过控制该两个拨码电路的通断,最终实现半导体引脚与第一测试公共端或第二测试公共端连接,利用测试设备连接第一测试公共端或第二测试公共端,就可检测任意二个引脚的关系。测试快速准确,效率高,不易损伤产品的引脚,较好地解决了技术员因产品管脚多测量时的误判及花费时间长以及容易损伤产品引脚的技术问题。 |
