用于PGA封装微波测试夹具的校准件
基本信息
申请号 | CN202010618864.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN111722088A | 公开(公告)日 | 2020-09-29 |
申请公布号 | CN111722088A | 申请公布日 | 2020-09-29 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 邢荣欣;王酣;胡玉荣;陈小松;危亮;黄英龙;吴永明 | 申请(专利权)人 | 深圳赛西信息技术有限公司 |
代理机构 | 佛山高业知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 陈安平 |
地址 | 518000广东省深圳市南山区粤海街道滨海社区滨海大道3398号赛西科技大厦10层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种用于PGA封装微波测试夹具的校准件,其封装接口与被测PGA芯片封装接口一致,包括采用TRL去嵌入技术设计的直通校准件、延迟线校准件、短路校准件和开路校准件。这种校准件,结合PGA封装微波测试夹具,实现了校准端面与测试端面的统一,完全去除了常规校准方式下的校准端面与测试端面之间的误差成份,最大限度的保证测试精度,同时插拔方便,一致性好,能有效地提高测试效率和重复性。 |
