缺陷检测方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质

基本信息

申请号 CN202111061917.9 申请日 -
公开(公告)号 CN113781434A 公开(公告)日 2021-12-10
申请公布号 CN113781434A 申请公布日 2021-12-10
分类号 G06T7/00(2017.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 欧超光;韩玉玺;张鲁江;王翔龙 申请(专利权)人 深圳市高川自动化技术有限公司
代理机构 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 朱阳波
地址 518000广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区71区新政厂房A栋401
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、智能终端及计算机可读存储介质,其中,上述缺陷检测方法包括:获取目标神经网络;获取待训练二维图像和待训练三维图像,基于上述目标神经网络对上述待训练二维图像和待训练三维图像进行训练后获得模型训练集;获取待训练缺陷检测模型,基于上述模型训练集对上述待训练缺陷检测模型进行训练,获得目标缺陷检测模型;获取待检测图像,基于上述目标缺陷检测模型和上述待检测图像进行缺陷检测。与现有技术相比,本发明方案结合神经网络和缺陷检测模型自动进行缺陷检测,有利于提高缺陷检测的准确性和效率。