一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统
基本信息
| 申请号 | CN202111096252.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113870202A | 公开（公告）日 | 2021-12-31 |
| 申请公布号 | CN113870202A | 申请公布日 | 2021-12-31 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/66;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/02;G06T3/60;G06T5/20 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 程坦;邹爱刚;刘涛;汪玮 | 申请（专利权）人 | 中科海拓（无锡）科技有限公司 |
| 代理机构 | 安徽善安知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 陈庭 |
| 地址 | 214000 江苏省无锡市滨湖区新城置业大厦20楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统，包括硬件系统、软件系统和训练模块，所述硬件系统包括网络服务设备、图像存储设备、数据库和负载均衡器，所述软件系统包括图像处理软件、算法处理软件和服务器终端平台软件。本发明所述的一种基于深度学习技术的远端芯片缺陷检测系统，本发明通过软件系统的算法，并提出一种芯片缺陷图像等级划分方法，解决了现有的芯片缺陷IC检测设备只能检测芯片的好坏，但不能对芯片缺陷进行类别划分和等级划分的问题，通过进行人工标记获取包括所有缺陷类别的标准数据集，可以提高检测的精确度，同时本系统可以在单位时间内对大量缺陷图像进行处理，提高了检测速度。 |
