芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022335873.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213302440U | 公开（公告）日 | 2021-05-28 |
| 申请公布号 | CN213302440U | 申请公布日 | 2021-05-28 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 刘磊;王露;戴一峰 | 申请（专利权）人 | 江苏邦融微电子有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市汇诚永信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 王晨光 |
| 地址 | 215316江苏省苏州市昆山市玉山镇苇城南路1699号9层909-1室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及芯片测试装置，包括检测基架、放置板和检测单元，放置板通过弹性柱安装在检测基架上，放置板设有放置槽，放置槽底端开设有检测通道，检测通道对准芯片的所有触点，放置槽两侧活动设有多个定位块，检测单元包括上检测板和下检测板，下检测板位于放置板的下方，上检测板可升降地设置在放置板的上方，上检测板两侧设有压条，压条的底面连接有多个压块，压块对准放置板的两侧。本实用新型通过设有放置在上检测板和下检测板之间的放置板，放置板上的检测通道可以对应芯片上的所有触点，芯片的多个触点同时检测，节约人力，此外上压板可升降设置，为自动化检测提供实现基础，从而最终实现检测效率的提升。 |
