分析源库模式缺陷检测器的深层结构体指针分析优化方法
基本信息
| 申请号 | CN202111279513.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113741969A | 公开（公告）日 | 2021-12-03 |
| 申请公布号 | CN113741969A | 申请公布日 | 2021-12-03 |
| 分类号 | G06F8/75（2018.01）I;G06F21/57（2013.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 孙永杰;于微;吴倩;王博;任望;王强 | 申请（专利权）人 | 北京鸿渐科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京东方盛凡知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 李娜 |
| 地址 | 100084北京市海淀区农大南路1号硅谷亮城2B-71A | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开分析源库模式缺陷检测器的深层结构体指针分析优化方法，包括以下步骤：先收集Source‑Sink相关的关联函数，再在函数调用图上分析收集的关联函数，得到函数调用图的子图，接着分析子图中相邻两点，得到分段source‑sink可达性判定结果，最后对分段结果进行交/并操作汇总，得到source‑sink整体判定条件；本发明综合利用多种静态代码分析技术，使用启发式算法自动将复杂度过高的Source‑Sink模式问题合理拆分为若干简单子问题，再对每个子问题进行单独判定，对不可判定问题，能够缩小影响范围，给出关联层次较近的相关函数，方便进行人工校验，可以有效降低代码分析结果的误漏报率。 |
