SDNAND测试方法、装置、存储介质和终端
基本信息
| 申请号 | CN202011589823.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112542208B | 公开（公告）日 | 2021-10-29 |
| 申请公布号 | CN112542208B | 申请公布日 | 2021-10-29 |
| 分类号 | G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 唐维强;林晓新;孙兆兴 | 申请（专利权）人 | 芯天下技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 佛山市海融科创知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区园山街道荷坳社区龙岗大道8288号大运软件小镇10栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种SD NAND测试方法、装置、存储介质和终端，通过设置不同优先级的线程，根据线程对SD NAND FLASH进行读写校验，以实现对SD NAND FLASH的读写压力测试；因为每个线程包括固定数据，所以当SD NAND FLASH在校验过程中出现错误时，可以通过校验数据对错误的类型以及出错的地址进行精确定位，以解决传统使用第三方工具对SD NAND FLASH进行读写压力测试时出现的问题。 |
