一种并行的flash寿命测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202011619489.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112599179B | 公开（公告）日 | 2021-11-23 |
| 申请公布号 | CN112599179B | 申请公布日 | 2021-11-23 |
| 分类号 | G11C29/12（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 黎永健;唐维强;刘佳庆;蒋双泉 | 申请（专利权）人 | 芯天下技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 佛山市海融科创知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区园山街道荷坳社区龙岗大道8288号大运软件小镇10栋101 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种并行的flash寿命测试装置，控制单元向拓展单元发送控制指令，拓展单元对控制指令进行解释，并根据解释后的指令对多个待测flash进行并行的寿命测试；利用FPGA引脚多且可以实现并行处理的特性实现大数量flash并行检测,增加flash处理的数量，提高cycling的处理速度，降低检测成本。 |
