用于测量偏振模色散矢量的方法和装置
基本信息
| 申请号 | CN200810242151.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101476975B | 公开（公告）日 | 2010-09-29 |
| 申请公布号 | CN101476975B | 申请公布日 | 2010-09-29 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘健;周俊强;董晖;黄治家 | 申请（专利权）人 | 深圳威谊光通技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳新创友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市杰普特电子技术有限公司;深圳市杰普特光电股份有限公司 |
| 地址 | 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇和平东路中国振华工业园5楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了用于测量偏振模色散矢量的方法，包括以下步骤：使指定波长的光分别按照三种输入偏振态通过待测器件，三种输入偏振态满足线性无关；分别测量光通过待测器件后的三种输出偏振态，将三种输入偏振态和三种输出偏振态记录为一组计算数据；重复上述步骤，记录多个不同指定波长下的多组计算数据；和根据各组计算数据计算各指定波长下的米勒矩阵，并根据米勒矩阵计算待测器件的偏振模色散矢量。本发明还公开了采用该方法的测量装置。本发明能使测量过程中由波长和输入偏振态的调节而引入的误差降低，提高偏振模色散矢量的测量精度。 |
