一种有机光电材料分子取向的表征方法
基本信息
| 申请号 | CN201810273081.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108535198B | 公开（公告）日 | 2021-11-23 |
| 申请公布号 | CN108535198B | 申请公布日 | 2021-11-23 |
| 分类号 | G01N21/25（2006.01）I;G01N21/31（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘世元;谷洪刚;张传雄;牛茂刚 | 申请（专利权）人 | 武汉颐光科技有限公司 |
| 代理机构 | 武汉东喻专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 方可 |
| 地址 | 430074湖北省武汉市高新大道999号未来科技城C2座2楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种有机光电材料分子取向的表征方法，通过建立待测样品的光学模型，根据光学模型中各层薄膜的特征矩阵建立待测样品的薄膜传输矩阵；通过构建待测样品材料的介电函数模型并对其进行参数化以获取待测样品的光学常数，根据光学常数和薄膜传输矩阵计算得到待测样品的理论穆勒矩阵光谱并通过迭代算法将理论穆勒矩阵光谱和测量穆勒矩阵光谱拟合，提取出样品的消光系数，根据构建的待测样品的分子取向与消光系数之间的关系模型计算得到待测样品的分子取向；本发明通过建立一种通用的分析方法对通过穆勒矩阵椭偏仪测量获得的4×4阶穆勒矩阵进行计算分析以获得光电材料的分子取向，适用于有机光电器件中有机分子取向度的快速准确标定。 |
