基于抛物面反射镜的光洁度测量仪及其测量方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

基于抛物面反射镜的光洁度测量仪及其测量方法

基本信息

申请号	CN201210582872.4	申请日	-
公开（公告）号	CN103063615B	公开（公告）日	2014-12-31
申请公布号	CN103063615B	申请公布日	2014-12-31
分类号	G01N21/55(2014.01)I;G01N21/94(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	周学斌;魏东;冯长波;王思平;毛琨	申请（专利权）人	天威（成都）太阳能热发电开发有限公司
代理机构	成都顶峰专利事务所（普通合伙）	代理人	李崧岩
地址	100000 北京市东城区后永康胡同17号195A
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种基于抛物面反射镜的光洁度测量仪，解决了现有技术中定时、定期清洗抛物面反射镜，并没有专业的用以检测抛物面反射镜的设备对抛物面反射镜镜面情况进行及时、有效地检测的缺陷。该光洁度测量仪包括用以安装抛物面反射镜并带动其跟踪太阳光的转动机构，跟随转动机构运动并用以记录抛物面反射镜反射的辐射强度与太阳光辐射强度的检测机构，以及用以处理、控制转动机构与检测机构的控制系统；其中，检测机构包括两个水平排列的辐射仪，且二者的辐射接收面相反。本发明在上述装置基础上还公开了其测量方法。本发明填补了现有技术中没有专业的槽式抛物面反射镜光洁度测量设备的空白，具有非常高的实用性和创造性。因此，适合推广运用。