一种可控硅测试仪
基本信息
申请号 | CN201510405601.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN104965164B | 公开(公告)日 | 2018-03-09 |
申请公布号 | CN104965164B | 申请公布日 | 2018-03-09 |
分类号 | G01R31/26 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 路传行 | 申请(专利权)人 | 安徽淮化股份有限公司 |
代理机构 | 合肥天明专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 奚华保 |
地址 | 234000 安徽省宿州市西昌路157号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明所述的一种可控硅测试仪,包括隔离降压变压器、静态测试电路和动态测试电路,所述动态测试电路包括整流电路、触发电路、双掷开关和显示电路,所述静态测试电路包括整流滤波电路和稳压电路;所述隔离降压变压器的输入端经保险与电源相连,其输出端分别与显示电路和整流滤波电路的输入端相连,所述显示电路的输出端依次经整流电路、触发电路与双掷开关一侧的不动端相连;所述整流滤波电路的输出端依次经稳压电路、指示灯和触发开关与双掷开关另一侧的不动端相连,所述静态测试电路和动态电路的连接端为可控硅的阴极测试端,所述双掷开关的动端分别为可控硅的阳极测试端和控制极测试端。本发明体积小、重量轻,通过静态和动态相结合的方式对可控硅进行测试,其测试简单可靠,不仅提高了可控硅的检修质量和工作效率,同时可有效保证检修人员的安全。 |
