一种超低介质损耗的聚酰亚胺薄膜
基本信息
申请号 | CN201810047784.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN109648970B | 公开(公告)日 | 2020-07-03 |
申请公布号 | CN109648970B | 申请公布日 | 2020-07-03 |
分类号 | B32B27/28;B32B27/18;B32B27/08;C08G73/10;C08J5/18;C08L79/08 | 分类 | - |
发明人 | 李磊;袁舜齐;何志斌 | 申请(专利权)人 | 深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司 |
代理机构 | 北京精金石知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司 |
地址 | 518105 广东省深圳市宝安区松岗街道办华美工业园 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种可直接与铜箔粘合的,超低介质损耗的聚酰亚胺薄膜及其制备方法,该聚酰亚胺薄膜由一层芯层和一层表层构成,或者由两层表层中间夹一层芯层构成,所述聚酰亚胺薄膜在10GHz测试频率下的介质损耗因数为0.0030~0.0060,介电常数<3.0。 |
