镭射膜存放时间的检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201810019649.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108254411B | 公开（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申请公布号 | CN108254411B | 申请公布日 | 2021-03-26 |
| 分类号 | G01N27/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 余赞;田璐;钟文;张勇军;韦雪雪;罗臻;陈华;章杰 | 申请（专利权）人 | 常德金德新材料科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 黄晓庆 |
| 地址 | 415000湖南省常德市经济技术开发区德山街道办事处青山社区德山大道325号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供一种镭射膜存放时间的检测方法，包括以下步骤：提供待测的镭射膜；测定镭射膜的实时电晕值；根据实时电晕值，得到镭射膜的存放时间；该镭射膜的实时电晕值与存放时间的关系式如下：σ＝‑0.0125t2‑0.2516t+σ0，其中，σ为实时电晕值，t为存放时间，σ0为初始电晕值。上述镭射膜存放时间的检测方法，通过测定的镭射膜的实时电晕值，就可得到准确的镭射膜的存放时间，方便人们判断该镭射膜是否还适用于后加工。 |
