绝缘栅双极型晶体管的硅外延片生产工艺

基本信息

申请号 CN201711099661.4 申请日 -
公开(公告)号 CN107845570B 公开(公告)日 2019-02-12
申请公布号 CN107845570B 申请公布日 2019-02-12
分类号 H01L21/02;H01L21/223 分类 基本电气元件;
发明人 王作义;康宏;马洪文;胡宝平;陈小铎;崔永明;卞小玉 申请(专利权)人 四川广瑞半导体有限公司
代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 代理人 郭受刚
地址 629000 四川省遂宁市国开区玉龙路598号创新创业孵化中心4011号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了绝缘栅双极型晶体管的硅外延片生产工艺,包括依次进行的以下步骤:步骤一、将硅衬底材料采用纯水清洗后放入反应器内;步骤二、采用氢气作为载流气体排出反应器内的空气;步骤三、将反应器内部升温至1160~1180℃,再采用HCL刻蚀3~4min,然后将反应器内部的HCL排除;步骤四、将反应器内部的温度降至1130~1140℃的生长温度;步骤五、向反应器内通入由氢气和四氯化硅气体混合构成的反应气体,使得硅衬底表面生成硅单晶层,得到硅外延片;步骤六、停止向反应器内通入反应气体,待反应器内部降至室温时,向反应器内通入氮气3~4min;步骤七、打开反应器取出硅外延片。本发明整体工艺简单,便于实现,成本低,且应用时能减小N+/P+交界面处过渡区的宽度。