硅8英寸大功率元器件外延片制备工艺

基本信息

申请号 CN202010381767.9 申请日 -
公开(公告)号 CN111554565A 公开(公告)日 2020-08-18
申请公布号 CN111554565A 申请公布日 2020-08-18
分类号 H01L21/02(2006.01)I 分类 -
发明人 康宏;王作义;雒林生;石广宁;韩立琼 申请(专利权)人 四川广瑞半导体有限公司
代理机构 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 代理人 唐邦英
地址 629000四川省遂宁市国开区玉龙路598号创新创业孵化中心4011号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了硅8英寸大功率元器件外延片制备工艺,包括以下步骤:1)、选择衬底片:采用重掺硼或重掺砷衬底片,所述衬底片为P型掺杂;2)、衬底片抛光:采用HCl进行气相抛光;3)、气流吹扫:衬底片抛光后采用H2进行吹扫;4)、外延生长:硅源用SiHCl3,先进行反型外延生长,生长温度为1080‑1100℃,生长速率为0.8‑1.0um/min,再进行双层外延生长,生长温度为1120‑1150℃,生长速率为1.2‑1.6um/min;所述硅源与衬底片接触之前先进行恒温预热处理;5)、外延生长完成后反应炉降温,取片。本发明所述制备工艺通过合理控制参数,提高了硅外延片厚度均匀性、电阻率均匀性。