一种闪存测试方法、可编程逻辑器件、存储介质和系统
基本信息
| 申请号 | CN202210388634.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114664371A | 公开（公告）日 | 2022-06-24 |
| 申请公布号 | CN114664371A | 申请公布日 | 2022-06-24 |
| 分类号 | G11C29/56（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 吴佳;李礼;吴叶楠 | 申请（专利权）人 | 上海威固信息技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海塔科专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 201799上海市青浦区高泾路599号1幢2层208室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种闪存测试方法、可编程逻辑器件、存储介质和系统，所述方法包括如下步骤：获取待测试固态硬盘中闪存存储位置的初始数据；将所述初始数据输入人工神经网络；运行所述人工神经网络并刷新所述闪存存储位置的数据；对比所述刷新数据与所述运行过程数据；记录数据对比不一致的闪存存储位置以及所述闪存存储位置的对比次数。本发明能够实现对闪存存储位置的可靠性测试，根据记录不一致的闪存存储位置以及所述闪存存储位置的比对次数来计算和认定不可修复的错误比特率、原始比特错误率和平均故障间隔时间。 |
