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一种闪存错误页比例评估模型及方法

基本信息

申请号 CN202010650477.X 申请日 -
公开（公告）号 CN111863117B 公开（公告）日 2022-04-29
申请公布号 CN111863117B 申请公布日 2022-04-29
分类号 G11C29/56（2006.01）I 分类 信息存储;
发明人 吴佳;余云;苗诗君;李礼;刘碧贞 申请（专利权）人 上海威固信息技术股份有限公司
代理机构 上海海贝律师事务所 代理人 王文锋
地址 201702上海市青浦区高泾路599号1幢2层208室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种闪存错误页比例评估模型及方法。闪存错误页比例可为闪存存储系统性能和功耗优化提供基础，但直接获取错误页比例时需要巨大的时间和空间开销，难以直接评估，而闪存的编程/擦除周期、数据保存时间获取十分方便。因此本发明通过对闪存进行测试获取在不同闪存编程/擦除周期、数据保存时间下的错误页比例相关数据，建立闪存错误页比例与编程/擦除周期、数据保存时间关联关系模型，最终用闪存编程/擦除周期和数据保存时间来快速估计错误页比例的模型。本发明对闪存存储系统的性能提升、功耗降低及相关工业应用具有重大意义。