一种消除进样过程影响的方法、装置及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202010548993.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111896759A | 公开（公告）日 | 2020-11-06 |
| 申请公布号 | CN111896759A | 申请公布日 | 2020-11-06 |
| 分类号 | G01N35/00(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李柏寒;许俊峰;王健斌;龚贻洲;周军 | 申请（专利权）人 | 武汉璟泓科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 武汉智嘉联合知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 武汉璟泓科技股份有限公司 |
| 地址 | 430074湖北省武汉市东湖新技术开发区生物园东路18号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种消除进样过程影响的方法、装置及存储介质，属于生物传感器进样技术领域，解决了现有消除进样过程影响技术中存在的准确性较低的问题。一种消除进样过程影响的方法，包括以下步骤：对待测样本进行加样，每隔设定时间间隔，检测待测样本对应的电流信号，得到预设个数的电流值；在所述预设个数的电流值中获取最大电流值，根据最大电流值对应的采样时间，判断加样是否失败，若否，则根据所述预设个数的电流值的拟合优度，判断加样方式是否为二次或多次加样，若否，则进行正常的电流信号检测，并输出电流信号检测结果。本发明所述消除进样过程影响的方法，提高了消除进样过程影响的准确性。 |
