场均匀性校准支架
基本信息
| 申请号 | CN201720774643.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN207336576U | 公开（公告）日 | 2018-05-08 |
| 申请公布号 | CN207336576U | 申请公布日 | 2018-05-08 |
| 分类号 | G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏延全;廖建明;齐昊;彭静 | 申请（专利权）人 | 深圳市钛和巴伦技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人 | 何平 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区沙河街道沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二一楼B区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种场均匀性校准支架，包括底座及垂直连接底座的Z轴支杆；底座包括X轴支杆，X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个支杆插槽位于同一直线上，若干个支杆插槽的开口方向平行于Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。每测试一个测试点只需要将场强探头连接入对应的探头连接槽，或将Z轴支杆安插入对应的支杆插槽即可，定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，提高了测试的可重复性，提高了测试效率。 |
