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一种ADC-T2二维图谱的测量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统

基本信息

申请号 CN202011241126.X 申请日 -
公开（公告）号 CN112415454B 公开（公告）日 2021-08-03
申请公布号 CN112415454B 申请公布日 2021-08-03
分类号 G01R33/54（2006.01）I;G01R33/50（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张洁莹;潘子异;王伟谦;吴子岳;叶洋 申请（专利权）人 无锡鸣石峻致医疗科技有限公司
代理机构 成都顶峰专利事务所（普通合伙） 代理人 杨国瑞
地址 214000江苏省无锡市新吴区弘毅路8号金帛座705室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及核磁共振成像技术领域，公开了一种ADC‑T2二维图谱的测量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统，可以在具有极不均匀的磁场或者是无法实现极短的回波时间的核磁共振系统中，通过获取的多个采用不同回波间隔的CPMG序列采集的回波信号，从多组回波信号中拟合出ADC系数和T2值，从而能测量出ADC‑T2图谱，使得不再需要复杂的扩散加权序列，具有算法简单且对系统要求低的优点，可以降低对对谱仪设备、射频功放和射频线圈等硬件系统的成本。同时所述测量方法还具有算法稳定的特点，不易受流动液体影响，对于T1/T2较小的物质同样适用。