一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统
基本信息
| 申请号 | CN202011242388.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112462311A | 公开（公告）日 | 2021-06-15 |
| 申请公布号 | CN112462311A | 申请公布日 | 2021-06-15 |
| 分类号 | G01R33/46;G01R33/48;G01R33/56 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 潘子异;张洁莹;王伟谦;吴子岳;叶洋 | 申请（专利权）人 | 无锡鸣石峻致医疗科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都顶峰专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 杨国瑞 |
| 地址 | 214000 江苏省无锡市新吴区弘毅路8号金帛座705室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及核磁共振成像技术领域，公开了一种横向磁化矢量衰减时间常数的校正测量方法、装置、计算机设备及非均匀场磁共振系统，可以在具有极不均匀的磁场或者是无法实现极短的回波时间的核磁共振系统中，通过获取的多个施加不同b值的SE‑CPMG序列采集的回波信号，先拟合出ADC‑T2二维图谱，然后对横向磁化矢量衰减时间常数T2做校正，如此可避免由于扩散造成的T2测量值偏小问题。此外，可进一步基于校正的T2测量值获得较为准确的ADC‑T2二维图谱，确保T2值测量不受回波时间和分子扩散的影响，且对系统要求低，可以降低系统成本。 |
