校准系统和校准方法
基本信息
| 申请号 | CN201711444495.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109974763B | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN109974763B | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | G01D18/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 谢逢春;邓颖聪;张丹丹;胡绿海;刘云;鲁异;吴海东;肖辉 | 申请（专利权）人 | 泰科电子（上海）有限公司 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汪洋 |
| 地址 | 200131上海市浦东新区（上海）自由贸易试验区英伦路999号15幢一层F、G部位 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种校准系统，包括：电阻检测仪，适于检测电子器件的电阻；第一容器，容纳有适于蚀刻引线的蚀刻溶液；和加热器，适于加热电子器件。当电阻检测仪检测到的电子器件在第一温度时的第一电阻在第一预定范围以内时，利用加热器将电子器件加热到高于第一温度的第二温度，并利用电阻检测仪检测电子器件在第二温度时的第二电阻，如果检测到的第二电阻在第二预定范围之外时，利用蚀刻溶液对引线进行蚀刻，以调节电子器件的电阻值，直至电子器件在第二温度时的第二电阻在第二预定范围以内，使得电子器件的电阻满足预定的精度要求。本发明降低了电子器件的制造难度，同时还能够降低废品率，节约制造成本。 |
