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一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质

基本信息

申请号 CN202010414915.2 申请日 -
公开（公告）号 CN111487524B 公开（公告）日 2022-03-11
申请公布号 CN111487524B 申请公布日 2022-03-11
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 程景全;宿晓锋;郭婷;武建宏 申请（专利权）人 上海华力微电子有限公司
代理机构 上海思微知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 曹廷廷
地址 201315上海市浦东新区良腾路6号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质。芯片测试系统包括主控装置、测试主板、N个子板连接件，若干个测试子板以及若干个测试套件。测试主板与主控装置、测试套件及测试子板连接；测试子板和测试套件匹配，测试子板和测试主板通过子板连接件连接。本发明提供的一种通用的芯片测试系统能够快速准确地对芯片设计前后的功能和性能进行验证测试，可以满足芯片制造前的功能验证、性能测试、可靠性测试的测试任务，而且该系统为模块化设计可扩展性强、能够实现测试自动化。