GIS设备DR、X射线成像板检测支架
基本信息
| 申请号 | CN201320842778.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN203732468U | 公开（公告）日 | 2014-07-23 |
| 申请公布号 | CN203732468U | 申请公布日 | 2014-07-23 |
| 分类号 | G01N23/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 高凯;倪浩;徐鹏;贺林 | 申请（专利权）人 | 领步科技集团有限公司 |
| 代理机构 | 北京北翔知识产权代理有限公司 | 代理人 | 屈静 |
| 地址 | 200437 上海市虹口区邯郸路171号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型属于电力技术领域，提供一种GIS设备DR、X射线成像板检测支架。这种GIS设备DR、X射线成像板检测支架，包括固定成像板的安装框架、滑动框架、支撑杆、导轨及导轮，支撑杆包括两根长支撑杆和两根短支撑杆，长支撑杆与短支撑杆枢接，导轨由导轮套接在两长支撑杆或短支撑杆之间并可沿其滑动，滑动框架安装在短支撑杆之间并可沿其滑动。根据本实用新型的GIS设备DR、X射线成像板检测支架，结构紧凑，使用灵活，定位精准，占用空间小，可调节高度及旋转角度，轻巧方便，便于拆卸及运输。 |
