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一种HDI盲孔板测试结构及HDI盲孔板

基本信息

申请号 CN202110449804.X 申请日 -
公开（公告）号 CN113163591A 公开（公告）日 2021-07-23
申请公布号 CN113163591A 申请公布日 2021-07-23
分类号 H05K1/11;H05K3/46 分类 其他类目不包含的电技术;
发明人 孟昭光;赵南清;蔡志浩;曾国权 申请（专利权）人 东莞市五株电子科技有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 张建
地址 523000 广东省东莞市石碣镇刘屋科技中路161号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种HDI盲孔板测试结构及HDI盲孔板，包括第一层板、第二层板和第三层板。第一层板上设有第一检测区，第一检测区设有通孔和多个间隔分布的具有相同半径的偏位检测环PAD。第二层板上设有第二检测区，第二检测区上设有第一铜皮，第一铜皮上设有多个间隔分布的具有不同半径的盲孔。第三层板上设有第三检测区，第三检测区上设有多个间隔分布的第二铜皮。多个第二铜皮、多个盲孔与多个偏位检测环PAD三者分别一一对应，通孔和第一铜皮对应，偏位检测环PAD的半径小于盲孔的半径。本发明可以通过万用表等仪器检测通孔与各个偏位检测环PAD之间的导通性，以此实现盲孔偏位检测的目的，提高了检测精度和准确性。