一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202010944041.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111835440B | 公开（公告）日 | 2021-03-23 |
| 申请公布号 | CN111835440B | 申请公布日 | 2021-03-23 |
| 分类号 | H04B17/11(2015.01)I;H04B17/24(2015.01)I;H04B17/21(2015.01)I | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 祖东辉;刘大伟;刘森 | 申请（专利权）人 | 翱捷科技（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 | 代理人 | 李思琼;冯振华 |
| 地址 | 518035广东省深圳市华富街道莲花一村社区皇岗路5001号深业上城(南区)T2栋2502 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种芯片射频信号延时测量参数的自动校准方法及系统，该系统包括：控制模块、模组和测量仪器，所述测量仪器用于测量所述模组发射的射频信号，所述控制模块用于控制所述模组发射和/或停止发射指定射频信号，以及控制所述测量仪器开始测量和/或停止测量，并读取测量仪器的测量值。运用该系统可以自动测量射频芯片模组在某一频率下稳定发射射频信号的起始时间，本发明提供的自动校准该时间的方法，可以找出射频信号稳定发射的时间起始点，从而保证射频信号指标稳定的前提下用最少的时间延时，提供最佳的工厂效率。 |
