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ATE测试板及ATE测试板的制造方法

基本信息

申请号 CN202110540231.1 申请日 -
公开（公告）号 CN113267659A 公开（公告）日 2021-08-17
申请公布号 CN113267659A 申请公布日 2021-08-17
分类号 G01R3/00（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 王琪;袁凯华 申请（专利权）人 上海泽丰半导体科技有限公司
代理机构 上海硕力知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 郭桂峰
地址 200233上海市徐汇区田州路159号15单元1302室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了ATE测试板及ATE测试板的制造方法，ATE测试板包括：第一线路板层，包括第一线路层、第二线路层以及第一芯板，第一线路层、第一芯板以及第二线路层相互叠层设置，并且第一芯板位于第一线路层和第二线路层之间；第二线路板层，包括第三线路层、第四线路层以及第二芯板，第三线路层、第二芯板以及第四线路层相互叠层设置，并且第二芯板位于第三线路层和第四线路层之间；第一研磨层，第一线路板层和第二线路板层相互叠层设置，第一研磨层位于第二线路层和第三线路层之间。其通过更换平整度的研磨层来实现平整度和外层阻抗的同时控制，避免了顾此失彼，两者不可兼得的困境，有效地改善了仿真和设计上的选择困难性。