一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备
基本信息
申请号 | CN202210200506.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114267407B | 公开(公告)日 | 2022-06-10 |
申请公布号 | CN114267407B | 申请公布日 | 2022-06-10 |
分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 分类 | 信息存储; |
发明人 | 曹圭大;刘金海 | 申请(专利权)人 | 合肥悦芯半导体科技股份有限公司 |
代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 230000安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请提供一种精度校正方法、装置、系统以及精度校正设备,该方法包括:完成每一测试信号的多次数据采集得到多次采集数据,该数据采集由精度校正设备对测试设备的每一测试信号采集得到,或由测试设备采集精度校正设备输出的每一测试信号得到,根据每一测试信号的多次采集数据确定每一测试信号的跳变时刻,跳变时刻为测试信号的电平由第一电平变为第二电平的时刻;根据每一测试信号的跳变时刻与采集时刻计算每一测试信号的时序差值;根据每一测试信号的时序差值计算每一测试信号对应的时序补偿值,以根据每一测试信号对应的时序补偿值对每一测试信号进行精度校正。 |
