存储器测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202210280259.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114400042B | 公开（公告）日 | 2022-06-10 |
| 申请公布号 | CN114400042B | 申请公布日 | 2022-06-10 |
| 分类号 | G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 朴英斗;宋秀良;刘金海 | 申请（专利权）人 | 合肥悦芯半导体科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 230000安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种存储器测试系统，其中，主控器件用于对接收到的模式控制指令进行解析，获得引脚工作模式，并在引脚工作模式为直流参数测试模式时，将预设信号参数发送给电子引脚总阵列中包括的多个第一目标电子引脚，针对多个第一目标电子引脚中的每个第一目标电子引脚，第一目标电子引脚又用于按照预设信号参数自动生成测试信号，将测试信号施加到被测存储器上与第一目标电子引脚对应连接的目标存储器引脚，并接收目标存储器引脚输出的测试反馈信号，将测试反馈信号发送给时序发生组件，时序发生组件则接收多个第一目标电子引脚发送的多条测试反馈信号，用于获得引脚直流参数测试结果，能够保证被测存储器的引脚直流参数测试效率。 |
