芯片测试对接装置及芯片测试装置

基本信息

申请号 CN202220131578.0 申请日 -
公开(公告)号 CN216771914U 公开(公告)日 2022-06-17
申请公布号 CN216771914U 申请公布日 2022-06-17
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 邱磊 申请(专利权)人 合肥悦芯半导体科技股份有限公司
代理机构 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 -
地址 230000安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园D1栋东侧2层
法律状态 -

摘要

摘要 本申请提供一种芯片测试对接装置及芯片测试装置,芯片测试对接装置包括:第一安装板,具有第一避让口和第二避让口;针卡,设置于第一安装板,针卡具有第一插接部;第二安装板,设置有第二插接部;定位锁紧组件,设置于第二安装板,定位锁紧组件具有限位部和可伸缩地设置于限位部的卡接部,限位部用于伸入第一避让口以对第一安装板限位,卡接部用于伸入第二避让口以将第一安装板固定于第二安装板。本申请的定位锁紧组件的限位部对第一安装板起到导向和限位作用,卡接部与第一安装板卡合,以将第一安装板快速、精准的定位于第二安装板,本申请的芯片测试对接装置结构简单、定位操作方便快速,有效提高测试装置的定位便捷性和定位效率。