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一种LED产线品质管控方法

基本信息

申请号	CN202010402519.8	申请日	-
公开（公告）号	CN111667148A	公开（公告）日	2020-09-15
申请公布号	CN111667148A	申请公布日	2020-09-15
分类号	G06Q10/06(2012.01)I	分类	计算；推算；计数;
发明人	顾铠;李伟英;钱燕妮	申请（专利权）人	浙江云科智造科技有限公司
代理机构	西安嘉思特知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘长春
地址	315191浙江省宁波市鄞州区姜山镇仪门村（科技园区）
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种LED产线品质管控方法，包括步骤：S1、结合历史生产数据，判断历史分光打靶图中的打靶点是否满足高斯二维正态分布；S2、当判断历史分光打靶图中的打靶点满足高斯二维正态分布时，根据历史生产数据，利用高斯二维正态分布的概率密度函数计算实际打靶中心的落BIN率；S3、根据实际打靶中心的落BIN率，对目标打靶图的目标中心点进行平移，得到实际打靶中心在不同目标落BIN率下的椭圆方程；S4、根据椭圆方程和试样数据进行试样转量产判断。该LED产线品质管控方法通过计算实际打靶中心的落BIN率，并对目标中心点进行平移，得到椭圆方程，然后再进行试样转量产判断，避免了人为经验设置距离而导致的误差，进而确保了产品的品质。