一种测高打光测量结构
基本信息
| 申请号 | CN202121378300.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216049691U | 公开（公告）日 | 2022-03-15 |
| 申请公布号 | CN216049691U | 申请公布日 | 2022-03-15 |
| 分类号 | G01B11/06（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈宝;彭修武 | 申请（专利权）人 | 深圳市智信精密仪器股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 | 代理人 | 卢杏艳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区大浪街道新石社区丽荣路1号昌毅工业厂区2号一层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及测量工具技术领域，特指一种测高打光测量结构，包括固定架，固定架上设有用于固定待测物料的定位机构，定位机构的上方设用于测量待测物料的镜头组件，定位机构的下方设有用于提供测量物料的平面尺寸时的平行背光光源，定位机构的四周设有用于提供测量物料的高度尺寸时的正光光源，定位机构的下方还设有与正光光源对应设置的反光板，反光板的旁边设有对应设置的棱镜。采用这样的结构设置，通过镜头组件与平行背光光源配合使用，可以用于测量待测物料的平面尺寸，通过镜头组件与正光光源、反光板以及棱镜配合使用，可以用于测量待测物料的高度尺寸，同时使用正光折射方式代替现有技术使用背光直射打光的方式，便于节省空间。 |
