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一种电容器高温老化系统用批量化测试治具

基本信息

申请号 CN202011073979.7 申请日 -
公开（公告）号 CN112363006A 公开（公告）日 2021-02-12
申请公布号 CN112363006A 申请公布日 2021-02-12
分类号 G01R31/01(2020.01)I;G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 谢斌;刘浩项 申请（专利权）人 安徽晶谷周界微电子股份有限公司
代理机构 合肥广源知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 汪纲
地址 233000安徽省蚌埠市财院路10号106号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及电容器老化测试技术领域，具体涉及一种电容器高温老化系统用批量化测试治具，包括底板，底板的上端面安装有若干个呈阵列分布的电容器夹持区，电容器夹持区包括前移动座、后移动座、金属导轨和轴承座；底板的下端面固定有一对滑座，一对滑座之间正相对的侧壁均开设有阶梯槽，阶梯槽由两个大小不同的柱形槽组成，阶梯槽内部安装有复位弹簧和卡头；本发明便于电容器批量化上料和下料，极大提高了操作效率降低操作难度；也便于对电容器进行安装夹紧，操作简单，稳固可靠；治具的安装十分简便，使用也更加灵活。