一种用于MCU芯片的全自动测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201910512684.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110275805A | 公开（公告）日 | 2019-09-24 |
| 申请公布号 | CN110275805A | 申请公布日 | 2019-09-24 |
| 分类号 | G06F11/22;G06F11/273 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 邓建;秦岭 | 申请（专利权）人 | 上海琪埔维半导体有限公司 |
| 代理机构 | 上海申新律师事务所 | 代理人 | 上海琪埔维半导体有限公司 |
| 地址 | 200120 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区盛夏路570号603室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种用于MCU芯片的全自动测试系统，包括：计算机；外供直流电源，外供直流电源为测试主板提供电源电压；测试主板分别连接计算机与外供直流电源，测试主板包括：主控芯片，主控芯片用于控制测试系统的自动化执行；被测MCU芯片，被测MCU芯片接收主控芯片的调度，并配合执行测试系统的复数个测试项；复数个执行测试单元，分别连接于主控芯片与被测MCU芯片之间，复数个执行测试单元用于分别测试复数个测试项，并由主控芯片将对应的测试数据存储至计算机。有益效果：通过采用硬件设计与软件控制的结合方式，启动测试后软件自动执行完成所有的测试，测试过程中不需要人工参与，节省了人力和时间，提高了工作效率。 |
