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测量荧光量子产率的方法及装置

基本信息

申请号	CN201811115211.4	申请日	-
公开（公告）号	CN109374585B	公开（公告）日	2021-05-18
申请公布号	CN109374585B	申请公布日	2021-05-18
分类号	G01N21/64	分类	测量；测试;
发明人	石广立;张恒	申请（专利权）人	北京卓立汉光仪器有限公司
代理机构	北京三友知识产权代理有限公司	代理人	王天尧;薛平
地址	101102 北京市中关村科技园区通州园金桥产业基地环科中路16号68号楼B
法律状态	-

摘要

本发明提供了一种测量荧光量子产率的方法及装置，该方法包括：获取第一发射荧光光子和剩余光子数，第二发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数；根据第二发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，确定匀化吸收率；根据匀化吸收率，第一发射荧光光子和剩余光子数，第三发射荧光光子和剩余光子数，确定直射吸收率；根据第一发射荧光光子和剩余光子数，直射吸收率，确定待测样品吸收激发光光子数；根据第三发射荧光光子和剩余光子数，第四发射荧光光子和剩余光子数，匀化吸收率，直射吸收率，确定样品所发射荧光光子数；确定荧光量子产率。上述方案提高了测量荧光量子产率的准确度。