一种传感器基线漂移校正的方法以及检测设备
基本信息
| 申请号 | CN201710844732.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107607143B | 公开（公告）日 | 2020-04-07 |
| 申请公布号 | CN107607143B | 申请公布日 | 2020-04-07 |
| 分类号 | G01D18/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 欧阳彬;王玉政 | 申请（专利权）人 | 深圳市卡普瑞环境科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市卡普瑞环境科技有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市福田区福田街道滨河大道5022号联合广场A座3701 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请实施例公开了一种传感器基线漂移校正的方法以及检测设备，用于校正传感器的基线漂移。本申请实施例方法包括：获取传感器在第一时间段的第一实际信号与第一基线信号，所述第一实际信号由所述传感器检测得到；获取缩放系数；根据所述第一基线信号与所述缩放系数计算得到基线漂移补偿；根据所述第一实际信号与所述基线漂移补偿对所述传感器的基线漂移进行校正。 |
