一种用于半导体芯片扩膜的制备方法

基本信息

申请号 CN202110191989.9 申请日 -
公开(公告)号 CN112967999A 公开(公告)日 2021-06-15
申请公布号 CN112967999A 申请公布日 2021-06-15
分类号 H01L21/78(2006.01)I;H01L21/683(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 阮文静;黄寓洋 申请(专利权)人 苏州苏纳光电有限公司
代理机构 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 王锋
地址 215000江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼109C单元
法律状态 -

摘要

摘要 本发明揭示了一种用于半导体芯片扩膜的制备方法,包括:提供第一扩膜环、第二扩膜环和待扩晶圆;取蓝膜固定在所述第一扩膜环上,绷紧后,并在绷好蓝膜的中心区域掏空一个大于待扩晶圆的圆环;在第二扩膜环上固定有放置待扩晶圆的第二蓝膜,并对待扩晶圆进行切割,切割好芯片后,沿第二扩膜环内四周切去多余的第二蓝膜,并去除第二扩膜环;将去除第二扩膜环的芯片放在底部,同时,将掏好圆环的第一扩膜环盖在上面,使第一扩膜环的中心与芯片中心重合,并将重叠的蓝膜和第二蓝膜进行粘结,获得半成品;将半成品放置于扩膜机上扩膜,得到扩膜好的半导体芯片。本发明提供的用于半导体芯片扩膜的制备方法,能将尺寸小的铁环扩膜到尺寸大的扩晶环。