一种集成电路测试装置
基本信息
申请号 | CN202021884410.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213210364U | 公开(公告)日 | 2021-05-14 |
申请公布号 | CN213210364U | 申请公布日 | 2021-05-14 |
分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 不公告发明人 | 申请(专利权)人 | 江西天漪半导体有限公司 |
代理机构 | 南昌金轩知识产权代理有限公司 | 代理人 | 石红丽 |
地址 | 332500 江西省九江市湖口县高新技术产业园区科创综合体项目9号楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括测试仪、支柱和把手,所述测试仪的底端四角均固接有支柱,所述测试仪的外壁两侧均固接有把手,所述测试仪的顶端安装有支撑构件,所述支撑构件的内部安装有支架。该集成电路测试装置,通过扣板、支板、转杆、螺纹块、撑杆和定块的配合使用,达到了可以对支架进行支撑工作,同时可以对支架的角度进行调节工作,通过底座、支块和卡块的配合使用,达到了可以对集成电路进行摆放工作,通过横杆、套管、转块、夹板和掰块的配合使用,达到了可以对集成电路进行夹紧固定工作,达到了方便对不同形状大小的集成电路进行夹紧固定工作,同时方便携带,可以放置到仪器上方进行测试工作。 |
