一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202111507829.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114184839A | 公开（公告）日 | 2022-03-15 |
| 申请公布号 | CN114184839A | 申请公布日 | 2022-03-15 |
| 分类号 | G01R23/16（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 付江铎;杨中;宋佳音;杨浩涵;陈文亚;黄一斌;樊晓华 | 申请（专利权）人 | 江苏集萃智能集成电路设计技术研究所有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市汇诚永信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 郭慧 |
| 地址 | 214000江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座18楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种抑制信号源抖动的ADC频谱测试方法，其无需大量复杂运算即可实现ADC高精度测试，可抑制信号源抖动，该方法包括：基波识别、基波替代两部分，基波识别包括：采集ADC的输出数据，对输出数据进行分段化处理，计算出每段中输出数据的初始相位，基于初始相位，得到输出数据的幅度漂移量的估计值，并在每段中使用线性方程对幅度漂移量进行拟合，估计出带漂移的基波分量；基波替代包括：重新构建一个幅度稳定的基波成分，利用该基波对漂移的基波分量进行替换，获取新的数据，并选择合适的窗函数对新的数据进行加窗处理，对加窗处理后的新的数据进行频谱分析，获得待测ADC动态参数。 |
