光学膜厚测试仪
基本信息
| 申请号 | CN200820141227.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN201318934Y | 公开（公告）日 | 2009-09-30 |
| 申请公布号 | CN201318934Y | 申请公布日 | 2009-09-30 |
| 分类号 | G01B11/06(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏杨;薛尚清;张博;谢亮 | 申请（专利权）人 | 四川南光电气有限责任公司 |
| 代理机构 | 成都立信专利事务所有限公司 | 代理人 | 四川南光电气有限责任公司;成都南光机器有限公司 |
| 地址 | 610100四川省成都市成都经济技术开发区星光西路115号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型为光学膜厚测试仪，解决已有膜厚测试仪使用调节不便，稳定性差，精度差的问题。主输入信号依次经串联的差分放大器、陷波器、主信号放大器、低通滤波器和偏置叠加器输入模数转换器、模数转换器的输出接逻辑可编程器件，参考输入信号经参考信号处理电路输入逻辑可编程器件，逻辑可编程器件的输出与单片机连接，单片机与显示器连接。 |
