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基于正弦条纹和多灰度级条纹投影的快速三维测量方法

基本信息

申请号 CN202110179797.6 申请日 -
公开（公告）号 CN113155056A 公开（公告）日 2021-07-23
申请公布号 CN113155056A 申请公布日 2021-07-23
分类号 G01B11/25（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 刘哲;王伟;左飞飞;李晓芸;王亚杰;吴宏新;张文宇 申请（专利权）人 北京朗视仪器股份有限公司
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 张乾桢
地址 100084北京市海淀区清华园清华同方大厦8层A8008B
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种基于正弦和多灰度级条纹投影的快速三维测量方法，包括如下步骤：步骤一、利用计算机生成多种条纹图，具体包括三幅正弦相移条纹图，以及一到多幅多灰度级条纹图；步骤二、用投影仪将多幅条纹图依次投影到被测物体表面，对每幅投影图像用相机进行采集；步骤三、利用三幅正弦相移条纹图求解出包裹相位；步骤四、对多灰度级图像进行阈值分割计算相对条纹级次，可以利用直接照明分量和间接照明分量等算法计算合适阈值；步骤五、利用多灰度级图像对相对条纹级次计算得到绝对条纹级次。然后进行相位解包裹获得用于三维重建的绝对相位；步骤六、三维重建，进行相位‑高度转换，得到被测物体的三维高度数据。